本所声明  |  联系方式  |  中国科学院  |  数字认证(OA)   |  ARP  |  English  |  邮箱

专利库数据

专利名称: 光学元件高反射率测量系统和测量方法
专利类别: 发明
申请号: CN201810972476.X
申请日期: 2018-08-24