本所声明  |  联系方式  |  中国科学院  |  数字认证(OA)   |  ARP  |  English  |  邮箱

专利库数据

专利名称: 大口径超光滑表面缺陷的检测装置和检测方法
专利类别: 发明
申请号: CN201610902339.X
申请日期: 2016-10-17