本所声明  |  联系方式  |  中国科学院  |  数字认证(OA)   |  ARP  |  English  |  邮箱

专利库数据

专利名称: 透明材料折射率干涉测量仪
专利类别: 实用新型
申请号: 2283662.4
申请日期: 2002-12-27