本所声明  |  联系方式  |  中国科学院  |  数字认证(OA)   |  ARP  |  English  |  邮箱

专利库数据

专利名称: 测量双折射单轴晶体波片厚度的方法和装置
专利类别: 发明专利
申请号: 200510030094.8
申请日期: 2005-9-28