本所声明  |  联系方式  |  中国科学院  |  数字认证(OA)   |  ARP  |  English  |  邮箱

标题: Scattering and three-dimensional imaging in surface topography measuring interference microscopy
作者: SuR.O.N.G.;COUPLANDJ.E.R.E.M.Y.;SHEPPARDColin;LEACHR.I.C.H.A.R.D.;SuR,CouplandJ
论文类型: 期刊论文
期刊/会议名称: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA A-OPTICS IMAGE SCIENCE AND VISION
年: 2021
卷: 38
期: 2