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标题: Modeling of interference microscopy beyond the linear regime
作者: ThomasMatthew;苏榕;NikolaevNikolay;CouplandJeremy;LeachRichard;ThomasM
论文类型: 期刊论文
期刊/会议名称: OPTICAL ENGINEERING
年: 2020
卷: 59
期: 3