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标题: Optical properties of thickness-controlled PtSe2 thin films studied via spectroscopic ellipsometry
作者: HeJunbo;JiangWei;ZhuXudan;ZhangRongjun;WangJianlu;朱美萍;WangSongyou;ZhengYuxiang;ChenLiangyao
论文类型: 期刊论文
期刊/会议名称: PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS
年: 2020
卷: 22
期: 45