专利
专利名称 | 专利类别 | 申请号 | 申请日期 |
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光谱选择性增强的荧光源 | 发明专利 | 200510029380.2 | 2005-9-2 |
提高CCD图像采集系统帧速率的方法 | 发明专利 | 200510029381.7 | 2005-9-2 |
漫反射聚光腔 | 发明专利 | 200510029674.5 | 2005-9-15 |
瑞利测风激光雷达的标定装置及其标定方法 | 发明专利 | 200510029675.X | 2005-9-15 |
噻二唑基偶氮-5-二乙基氨基-苯胺衍生物合成方法 | 发明专利 | 200510029676.4 | 2005-9-15 |
与光电倍增管大光敏面匹配的大数值孔径的散射光聚光镜 | 发明专利 | 200510029677.9 | 2005-9-15 |
倾斜入射光散射式硅片表面缺陷检测仪 | 发明专利 | 200510029678.3 | 2005-9-15 |
倾斜入射光散射式硅片表面缺陷检测仪 | 实用新型 | 200520045038.7 | 2005-9-15 |
漫反射聚光腔 | 实用新型 | 200520045039.1 | 2005-9-15 |
瑞利测风激光雷达的标定装置 | 实用新型 | 200520045040.4 | 2005-9-15 |
机械挡光式可变光衰减器 | 实用新型 | 200520045235.9 | 2005-9-23 |
机械挡光式可变光衰减器 | 发明专利 | 200510029958.4 | 2005-9-23 |
激光光束质量M2因子实时检测仪 | 实用新型 | 200520045366.7 | 2005-9-28 |
基于萨格奈克干涉仪的全息位相差放大重构装置 | 实用新型 | 200520045367.1 | 2005-9-28 |
基于萨格奈克干涉仪的全息位相差放大重构装置 | 发明专利 | 200510030097.1 | 2005-9-28 |
激光光束质量M2因子实时检测仪 | 发明专利 | 200510030096.7 | 2005-9-28 |
测量双折射单轴晶体波片厚度的方法和装置 | 发明专利 | 200510030094.8 | 2005-9-28 |
测量双折射单轴晶体波片厚度的装置 | 实用新型 | 200520045365.2 | 2005-9-28 |
高斯倍频光脉冲的产生方法 | 发明专利 | 200510030095.2 | 2005-9-28 |
扫描型上转磷光颗粒分布状态检测仪 | 发明专利 | 200510030550.9 | 2005-10-14 |