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4月20日学术报告：Virtual substrate method for nanomaterials characterization

来源： 发布时间：2023-04-19【字体：大 中 小】

　　报 告 人：达博 主任研究员 日本国立材料研究所(NIMS)

　　会议时间：2023年4月20日 13:30

　　会议地点：1号楼108会议室（帝俊厅）

　　报告内容： 

　　现有的薄膜表征技术可以扩展到基底支持的纳米材料，通常很难实现定量测量。其主要原因是在普通的反射式配置技术中，纳米材料的信号不可避免地被埋没在底层基底的信号中。在此，我们提出了一种虚拟衬底的方法[B. Da, et al. Nature Commun. 8 (2017) 15629]，通过四个相互关联的测量来表征纳米材料，而不受底层衬底信号的影响。基于此方法，我们使用俄歇扫描电子显微镜（AES）跟踪和控制与两个不同基底的反射率差异，以得到相关的二次电子能谱（白电子）。根据纳米材料透射率的细微变化，二次电子能谱被用来定量表征衬底表面的纳米材料，有效提高了测量效率。虚拟基底方法提供了使用AES表征纳米材料样品信息的新方案。

　　报告人简介：

　　达博博士，日本国立材料科学研究所（NIMS）主任研究员，材料循环重点项目组TEAM LEADER。2008年于中国科学技术大学获得物理学学士学位，2013年于中国科学技术大学校获得物理学博士学位。2013年11月到日本国立材料科学研究所（NIMS）（日本筑波）担任博士后研究员，2015年1月担任国际青年科学家中心（ICYS）研究员，2016年12月担任信息集成材料研究中心（CMI2）的研究员， 2019年4月起担任材料数据与集成系统部门（MaDIS）的主任研究员，2023年4月起担任材料循环重点项目组TEAM LEADER。

　　他一直从事开发新型测量分析方法，通过表面分析技术从测量电子能谱中提取更多信息。最近，达博博士的研究重点主要是通过测量技术和信息学的联合来开发新的测量分析方法。他为俄歇扫描电子显微镜所开发的虚拟基底方法，能够有效提取出放置在衬底上纳米材料的信息。因为这项工作，达博获得了日本国立材料研究所理事长颁发的《年度理事长奖》，花王财团颁发的《花王科学奨励賞》，日立财团颁发的《倉田奨励金》。他的小组在各种期刊上发表了110多篇与这些新方法有关的论文，包括Nature Communications, Physical Review Letters, The Journal of Physical Chemistry Letters 和 Physical Review Applied等。

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