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6月6日学术报告:量子估计和探测理论及其在成像中的应用

来源: 发布时间:2019-06-03【字体:

报告题目:量子估计和探测理论及其在成像中的应用

讲座时间、地点:20196614:00 17:00, 溢智厅  

  主讲人:陆晓铭,杭州电子科技大学理学院教授。于浙江大学物理系获得本科和博士学位。2011年博士毕业后在新加坡国立大学量子技术中心和电气及计算机工程系进行博士后研究工作。主要研究兴趣为量子计量学、量子信息、量子成像。  

  摘要:我们将会介绍关于成像系统分辨率的统计描述。将成像问题转换为参数估计或者假设检验,运用量子计量学的工具,我们可以得到比瑞利标准更好的度量成像分辨率的方法。以此为基础,我们可以揭示关于两个非相干点光源分辨率的基本量子极限及其优化测量方案。  


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