激光晶体研究中心

部分测试仪器设备

更新时间:2023-11-24 【打印】 【关闭

仪器名称

紫外-可见-近红外分光光度计

仪器型号

安捷伦Cary 5000

仪器照片

仪器参数

l 波长范围:1753300nm

l 是否偏振:自动偏振器

l 波长准确度:紫外可见≤±0.08nm;近红外≤±0.5nm

l 波长重复性:紫外可见≤±0.005nm;近红外≤±0.02nm

l 光度准确性:±0.00025A(0.3Abs0.5Abs双光阑法)

l 光度重复性:±0.00014A(0.51A)

l 带宽:紫外可见0.015nm0.01nm间隔自动调节;近红外0.0420nm0.01nm间隔自动调节;

l 光谱分辨率:优于0.048nm(紫外可见区);优于0.2nm(近红外)


仪器名称

X射线粉末衍射仪

仪器型号

日本理学Rigaku X射线粉末衍射仪 ULTIMA IV 

仪器照片

仪器参数

l 测角仪器半径:185mm

l X射线光管:A-41 2.0KW

l 扫描角度范围:2θ3°-120°

l 扫描步长0.02°

仪器名称

X射线单晶定向仪

仪器型号

丹东新东方X射线定向仪:XY-2

仪器照片

仪器参数

l X射线源:铜Kα1线,波长为0.154056nm

l 测试精度:±30″

l 范围:10°-100°

l   标准样片:(101)石英片SiO2θ值为13°20′

仪器名称

半导体器件霍尔效应测试系统

仪器型号

Lake Shore-8404

仪器照片

仪器参数

l 电阻测量范围:10 mΩ ~ 200 GΩ

l 电流范围:±1 pA ~ ±100 mA

l 迁移率测试范围:1 ~ 1 × 106cm2/V·s

l 温度范围:15 k ~ 350 K

l 室温下最大磁场:1.67 T

l 使用低温选件时最大磁场:0.89 T

室温最大样品尺寸:10 mm × 10 mm × 3 mm,采用焊接引线方式进行样品安装

仪器名称

激光共聚焦显微镜

仪器型号

LSM900

仪器照片

仪器参数

l 正立透反全自动光学显微镜;

l 宽视野平场10x/23目镜;

l 物镜:选用最先进的反差增强系列,增加短波长透光率,提高图像的分辨率;

l 第二代国际最先进的IC2S无限远轴向及径向双重色差校正及反差增强的光学系统;

l TFT触摸式液晶操作屏;

l 显微镜Z方向步进精度10 nm,并带有1 nm精度闭环装置;

l 电动扫描台;

l 电动7位物镜转盘;

l 蔡司原装Axio cam 105摄像头,500万像素;

l 观察方式:反射光明场、暗场、偏光、微分干涉、荧光;

l 405 nm半导体激光器,功率5 mW

l 长寿命LED照明,寿命不低于10000 h

l 专用共聚焦反射光通道,配有高灵敏度PMT探测器;

l 三维表面形貌软件模块:可获得三维表面形貌图及高度图(地形图),并增加多种测量功能(粗糙度、表面积、体积);

图像拼接模块:可实现XZ剖面拼图和XYZ空间拼接。

仪器名称

方阻测试仪

仪器型号

LEI-1510EC

仪器照片

仪器参数

l 文本框:线性度±3

l 高量程HI Rang 测试结果小于等于0.5%;

l 低量程LO Rang 测试结果小于等于0.3%;

l 超低量程XL Rang:测试结果小于等于0.55%;

l 线圈的直径为14 mm

l 可测量wafer的尺寸为2-8 inch

l Gap Rang探头间距范围;

测试点数可以自己设置。

仪器名称

颗粒度测试仪

仪器型号

NanoSight NS300

仪器照片

仪器参数

粒径检测范围:10–2000nm*

浓度检测范围:106–109/ml

光电单元:超高灵敏度科研级sCMOS

样品量:最少300 ul


仪器名称

FTIR红外光谱仪

仪器型号

FTIR-850

仪器照片

仪器参数

光谱范围:7800-350cm-1

分辨率:0.5 cm-1

波束精度:0.01 cm-1