拉曼光谱不仅能够给出材料本身的组成成分、缺陷、杂质和应力分布等信息，而且可以原位表征温度、压力、磁场等外界因素对材料结构和性能的影响。本次报告主要介绍拉曼光谱技术在半导体和二维材料研究中的应用，并结合偏振技术、二次谐波、光电流、nanoGPS等多种扩展功能分享一些前沿应用案例。此外，报告也将提供HORIBA多种光谱技术，如荧光光谱、椭圆偏振光谱及辉光放电光谱在半导体和二维材料中的综合解决方案。

Biography

胡恩萍，南洋理工大学博士，自2011年加入HORIBA以来，主要从事拉曼应用及技术支持相关工作，在化学、材料科学、生物学等多种应用领域积累了丰富的经验。现为HORIBA前沿应用开发中心应用经理，致力于与中国用户合作，开发HORIBA光谱技术在行业中的综合解决方案。