上海光学精密机械研究所
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第336期(青稞寻光第30期):光学复杂表面纳米级偏折测量及应用研究
信息来源: 发布时间: 2024年08月07日 【 】 【打印】 【关闭
报告人: 牛振岐
报告题目:

光学复杂表面纳米级偏折测量及应用研究

报告时间: 8月9日  (周五) 12:30-13:30
报告地点: 1号楼2楼图书馆

报告简介 议题海报 本期照片 本期议题简讯

Abstract

牛振岐,复旦大学光学工程博士,中国科学院上光所高功率激光元件技术与工程部助理研究员,入选上海市“超级博士后”激励计划和上海市“启明星计划-扬帆专项”人才计划。研究兴趣是光学表面超精密测量技术的研究,相关研究工作已在Optics Express,Optics Letters等光学测量类权威期刊共发表十余篇学术论文,主持国家自然科学基金-青年项目、JKW创新特区基金等多个项目。

Biography

光学自由曲面的制造质量在很大程度上依赖于表面测量精度,超精密表面测量技术是超精密光学制造提质增效的基础。报告将介绍基于偏折术的自由曲面纳米级原位测量技术。首次将波前编码技术引入偏折测量系统,提出结构约束相位展开、自适应迭代空变模型和波前编-解码等一系列算法,系统性地突破偏折术固有的测量不确定问题,协同克服测量效率-测量精度的限制。探讨偏折术与光学制造的结合点和独有优势。


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