Abstract

    自七十年代世界上第一台激光器问世以来，人们对激光器的追求向着更高功率和更高可靠性方向发展，强激光技术成为激光科学研究的前沿领域。扩大通光口径是获得高功率激光输出的重要途径，但同时对光学材料、光学元件制造和检测技术提出了巨大挑战。随着强激光系统的不断发展，目前应用于强激光系统中的光学元件的对角线尺寸已超过1.5m。为获得接近完美质量的光学元件，需要对这些大口径元件的制造误差进行精确定量化测量，从而为精密加工过程提供定量化误差分布以及改进方向。基于光学测量原理的各类检测技术都存在测量口径和分辨率、精度之间的基本矛盾，另外，建造大的测量系统也会带来较大的工程难度和高昂成本。本报告对米量级光学元件的波面误差、光谱及表面缺陷等关键特性的精密检测技术及其工程应用相关进展进行汇报。

 Biography

    刘世杰，博士，研究员，上海光机所精密光学制造与检测中心副主任。2008年在中科院上海光机所取得博士学位；2008年5月至6月在德国Erlangen大学先进光学技术研究生院访问学习；2008年11月至2011年3月在德国弗劳恩霍夫集成系统和元器件技术研究所作博士后研究。2011年4月开始在中科院上海光机所从事精密光学检测技术及检测装置的研究，已经在国内外刊物上发表论文80余篇，授权发明专利十余项。主持承担了国家自然科学基金、国家某重大专项课题以及中科院仪器设备功能开发等项目。曾获国家技术发明二等奖、上海市技术发明一等奖和安徽省科技进步一等奖。