Abstract

报告人简介：

李源， 1998年~2007年在天津大学测试计量技术及仪器专业学习，获工学博士学位，2007年至今在上海市计量测试技术研究院工作，2014年受聘教授级高级工程师。现任全国微束分析标准化委员会扫描探针显微镜标准化工作组（SAC TC38/SC2/WG1）秘书长，中国仪器仪表学会测量与控制分会常务理事、上海市质监局第三届学术带头人。在微纳米测量仪器开发与应用、微纳米标准及溯源方法研究、微纳米传感器件相关研究等重点领域，近5年发表了学术论文30余篇，承担了10余项国家和省部级科研项目，形成10项已授权的国家专利、1项国家标准、1项国家校准规范，并获得省部级科学技术奖励5项。