9月3日，日本新瀉大学工学部Osami Sasaki教授“外国专家特聘研究员”受聘仪式在中科院上海光机所举行。上海光机所所长李儒新研究员与Osami Sasaki教授共同签订了“中国科学院外国专家特聘研究员聘用协议”，李儒新所长代为颁发了中国科学院外国专家特聘研究员证书。相关管理人员、研究室科研人员及研究生共30余人到会听取了Osami Sasaki教授在华工作计划报告，并针对具体内容展开了细致讨论。

Osami Sasaki教授是国际上高精度光学成像测量领域的著名学者。他在国际上首次提出了基于正弦相位调制干涉测量技术的纳米精度光学检测技术，并在此基础上，研究开发了正弦波长扫描干涉术、锁相干涉术、相位共轭干涉术、正弦振动条纹投影干涉术等系列纳米精度光学检测技术。利用上述系列技术成功实现了物体表面与亚表面形貌、微位移、微振动、微转角等参数的纳米精度测量。迄今在《Optics Letters》、《Applied Optics》等国际光学领域一流学术期刊发表研究论文70余篇。2009年由于在光学检测领域的突出工作，Osami Sasaki教授当选为国际光学工程学会会士（SPIE Fellow）。

2002年以来，Osami Sasaki教授与上海光机所开展了多种形式的交流合作。此次在中国科学院国际合作局的支持下，双方将在高端光刻机波像差精密检测技术方面进行合作研究。

“外国专家特聘研究员”计划是中国科学院在2009年首次推出的引进国外优秀科技人才计划，其宗旨是通过吸引外国优秀高级研究人员参与中科院研究项目，加强与国外国立科研机构、大学和企业研究人员的合作，充分利用国际智力资源，提升科学院科技创新能力。（所办公室、信息光学与光电技术实验室供稿）