6月6日，杭州电子科技大学陆晓铭教授来我所访问交流，作了题为“量子估计和探测理论及其在成像中的应用”的学术报告。成像系统的分辨率的统计描述是量子成像的重要研究方向。报告中将成像问题转换为参数估计或者假设检验，运用量子计量学的工具，可以得到比瑞利标准更好的度量成像分辨率的方法。量子光学重点实验室30余位科研人员和研究生参加了本次报告，与会人员与陆晓铭教授进行了热烈和深入的讨论交流。 

　　陆晓铭于浙江大学物理系获得本科和博士学位。2011年博士毕业后在新加坡国立大学量子技术中心和电气及计算机工程系进行博士后研究工作。主要研究兴趣为量子计量学、量子信息、量子成像。 (中科院量子光学重点实验室供稿）