薄膜光学实验室

原子层沉积系统

更新时间:2023-11-23 【打印】 【关闭

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  型号:Picosun SUNALE R-200 PEALD
主要指标:
基片尺寸:≤ 8”
薄膜厚度偏差≤ 2%:在8”基片上9个不同点(以圆中心点为原点的XY轴平面的上原点,X/Y轴正、负轴方向的1/2基片半径和4/5基片半径)进行测试
功能:
薄膜制备
李静平
021-69918395