双光路分光光度计

薄膜电参数测量仪

光学显微镜

元件损伤阈值测试平台

大口径光学元件激光预处理平台

元件表面微弱吸收测量装置

光学元件的总积分激光散射损耗测量装置

光学元件的角分辨激光散射损耗测量装置

单晶光纤的激光散射损耗测量装置

光学元件的高精度透/反射率测量装置

Buker台阶仪

原子力显微镜

外部量子效率量测系统（EQE）

激光打标机

太阳能模拟器

真空热循环测试系统

LED-EQE测试系统

低温探针台

X射线测试系统

瞬态光电压/光电流测试系统（TOF）

热导纳谱测试系统

高频磁探测系统

磁成像系统

薄膜材料非线性光学系数测试平台

光学超材料快速加工平台

多功能X射线衍射仪

Zeiss Auriga高分辨双束场发射扫描电子显微镜

傅里叶变换红外光谱仪

X射线光电子能谱仪